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ST-21L方塊電阻測試儀半導體薄層電阻儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

ACL-800重錘數(shù)顯式表面電阻測試儀ACL靜電測是依據(jù)EOS/ESD，CECC、ASTM和UL測試規(guī)程設計的，用于測量所有導電型、抗靜電型及靜電泄放型表面的阻抗或電阻。使用容易，高品質，高可靠度，該儀表還可測量影響電性能的相對濕度和溫度。可測量阻抗、濕度和溫度。

電阻測試儀SPP3筆形電極PP3-CP導電膠環(huán)測試線插孔：SPP1直接4mm插孔，SPP2/SPP3配有BNC轉2個4mm插孔，適配采用燈籠頭測試線的電阻測試儀.

電阻測試儀SPP1/SPP2電極PP3-CRB導電膠套，測試線插孔：SPP1直接4mm插孔，SPP2/SPP3配有BNC轉2個4mm插孔，適配采用燈籠頭測試線的電阻測試儀。

重錘式靜電測試儀19293/770763距離標線，測試點到點電阻時，用于確定2個重錘之間的距離，10~1000VDC擊穿測試：擊穿電壓、擊穿前電阻、擊穿后電阻、1000VDC耐壓測試。