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美國DAKOTA達高特CMXDL+多功能超聲波測厚儀
更新時間:2024-07-23
產(chǎn)品型號:
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址:
美國DAKOTA達高特CMXDL+多功能超聲波測厚儀
產(chǎn)品特點:
- - - - - - - - - | 100MHz FPGA時序電路設(shè)計 可選彩色和灰度顯示屏 A/B掃描 手動調(diào)節(jié)增益和自動增益控制 (AGC),范圍:110dB 自動時間相關(guān)增益(TDG) 多種測量模式 脈沖-回波(P-E)模式:測量材料厚度 脈沖-回波涂層(PECT)模式:同時測量材料和涂層厚度 脈沖-回波溫度補償(PETP)模式:測量材料厚度 回波-回波(E-E)模式:穿過涂層測量材料厚度 回波-回波驗證(E-EV)模式: 穿過涂層測量材料厚度 測量涂層(CT)模式:只測量涂層厚度 可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭) USB Type-C數(shù)據(jù)接口 內(nèi)置4GB SD存儲卡 |
美國DAKOTA達高特CMXDL+多功能超聲波測厚儀參數(shù):
測量
脈沖-回波(P-E)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼),0.0254~2.54mm(涂層)
脈沖-回波溫度補償(PETP)模式 測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
回波-回波(E-E)模式測量范圍:2.54~152.4mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)
回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍:2.54~102mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)
測量涂層(CT)模式測量范圍:0.0127~2.54mm(涂層)
分辨率:0.01mm
聲速范圍:309.88~18542m/s
單位:公制或英制
校準(zhǔn):一點和兩點校準(zhǔn)方式
顯示屏:1/8英寸VGA灰色顯示,240x160象素??梢晠^(qū)62x45.7mm,EL背光;可選1/4英寸彩色顯示屏,320x240象素
A-掃描方式:檢波+/-(缺陷視場),RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)??v向和橫向視圖(彩色顯示屏)
B-掃描方式:基于時間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個讀數(shù)
大數(shù)字方式:標(biāo)準(zhǔn)厚度顯示,數(shù)字高度17.78mm/14.35mm(彩色顯示屏)
厚度條形掃描:速度10Hz,在B-掃描和大數(shù)字顯示中可見
穩(wěn)定度指示:表示測量值的穩(wěn)定性
功能狀態(tài)指示:顯示當(dāng)前激活的功能
超聲波參數(shù) 測量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脈沖:可調(diào)方波脈沖發(fā)生器
接收:根據(jù)選擇模式在110dB范圍內(nèi)采用手動或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可調(diào)
計時:單次100MHz8位超低功耗數(shù)字化儀的精確TCXO計時
脈沖重復(fù)頻率:250Hz
探頭 頻率范圍:1~20MHz
雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式)
LEMO接口,1.2米探頭線
可定制用于特殊應(yīng)用的探頭
存儲 容量:內(nèi)置4GB SD卡
數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu):網(wǎng)格(字母數(shù)字)和順序(自動識別)
截屏功能:位圖圖形捕獲,用于快速記錄
數(shù)據(jù)輸出:通過USB Type-C連接的計算機
功能設(shè)置:64個用戶定義設(shè)置,用戶也可編輯出廠設(shè)置
探頭類型可選:內(nèi)置雙路誤差校正,提高線性度
報警模式:上下限視聽報警
快速掃描模式:每秒250個讀數(shù),當(dāng)探頭離開時顯示最小值
其他鍵盤:12個觸摸鍵
電源:標(biāo)配為三節(jié)5號堿性電池 ,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無操作五分鐘后自動關(guān)機。USB Type-C供電
外殼:擠壓鋁機殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
工作溫度:-10~60℃
尺寸重量:63.5x165x31.5mm,含電池385g
包裝:ABS工程塑料箱
出廠證書:工廠校準(zhǔn)可追溯到NIST和MILSTD-45662A標(biāo)準(zhǔn)
美國DAKOTA達高特CMXDL+多功能超聲波測厚儀探頭可選表:
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